Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
7

On the breakdown statistics of very thin SiO2 films

Рік:
1990
Мова:
english
Файл:
PDF, 865 KB
english, 1990
13

Adiabatic expansion, early X-ray data and the central engine in GRBs

Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 559 KB
english, 2009
22

CMOS–MEMS resonators: From devices to applications

Рік:
2015
Мова:
english
Файл:
PDF, 3.03 MB
english, 2015
32

Zero-level packaging of MEMS in standard CMOS technology

Рік:
2010
Мова:
english
Файл:
PDF, 2.76 MB
english, 2010
35

Spectroscopic Characterization of Nanoscale Modification of Passivated Si(100) Surface by STM

Рік:
1994
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.83 MB
english, 1994
40

CMOS-NEMS Copper Switches Monolithically Integrated Using a 65 nm CMOS Technology

Рік:
2016
Мова:
english
Файл:
PDF, 3.57 MB
english, 2016
43

High Performance Seesaw Torsional CMOS-MEMS Relay Using Tungsten VIA Layer

Рік:
2018
Мова:
english
Файл:
PDF, 10.24 MB
english, 2018
47

Gate oxide breakdown statistics in wearout tests of metal-oxide-semiconductor structures

Рік:
1989
Мова:
english
Файл:
PDF, 775 KB
english, 1989
48

Breakdown of SiO2 films in VLSI MOS structures

Рік:
1989
Мова:
english
Файл:
PDF, 394 KB
english, 1989
49

On the oxide interface micro-roughness in MOS devices

Рік:
1989
Мова:
english
Файл:
PDF, 342 KB
english, 1989
50

Simple STM theory

Рік:
1990
Мова:
english
Файл:
PDF, 337 KB
english, 1990